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邊界掃描在線測試工具Boundary Scan In Circuit Tester (ICT)

 

運用傳統在電路測試器的生產測試, 和產品開發一樣都會遇到相似的問題:

· 細小的組件譬如SMTs 和BGAs都缺乏物理存取, 使板上的針難以探查。
· 為發展ICTs的測試裝置變得更長和更加昂貴。

· 由於日漸復雜的ICs, ICTs的試驗發展過程變得更長和更加昂貴。

· 設計師被迫提出大數量的測試點, 與小型化設計的目標直接衝突。

· 使用ICT去做在線編程, 速度慢, 效率低, 成本高。

現在的電子元件越來越小,管腳越來越密,更多的是沒有管腳外露的BGA/FQP/LPQ等封裝,這樣我們如何來判斷芯片焊接和電路版SMT的好壞呢? IEEE定義邊界掃描1149.1 標準, 它是一個實施在IC水平, 為測試在PCB上的互相聯繫的聯合方法。 在80年代, 聯合測試行動小組(JTAG) 開發了一個為邊界掃描測試的規格,在1990 規範化了`並作為IEEE Std.1149.1-1990 。 1993年, 一個對IEEE Std.1149.1標準的新修正推出(題為1149.1a), 並且它包含了許多闡明、更正, 和改進。 1994 年, 包含描述的補充邊界掃描描述語言(BSDL) 增加了來標準。 從那時候, 這個標準由全世界的主要電子公司採用。 邊界掃描應用於大容量、高端消費品、電信產品、防禦系統、計算機、外圍設備和航空電子學方面。 現在, 因為它的經濟好處, 無法買得起昂貴的in-circuit 測試器的公司也使用邊界掃描。
基 於IEEE1149.1/1149.5/6的標準,在JTAG原理基礎上,Corelis公司提供了一整套針對研發/生產/測試流程的邊界掃描測試工具 (Boundary Scan Tools), 其產品更可以與多種ICT結合使用,來完成功能測試,從而提供板子的coverage report.


原理介紹:

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一個典型的擁有邊界掃描電路板包括以下主要組分:

· 各種各樣邊界掃描組件如CPLDs, FPGAs 、Processors等, 連起來通過邊界掃描通路(scan path)。
· 非邊界掃描組件(群)。

· 各種類型的存儲設備。

· FLASH組件。

· 透明組分譬如係列電阻或緩衝。

我們可以通過TDI輸入一系列0和1的測試向量,然後系統會根據每個含有邊界掃描信息的元件的BSDL文件定義,來判斷TDO的輸入信號是否跟預期一樣, 從而達到定位錯誤的功能。 邊界掃描測試軟件系統有: 測試腳本生成軟件TPG (Test Program Generator, TPG)根據測試目標板(Unit Under Test, UUT)的netlist 和BSDL 文件。 TPG自動地產生測試向量, 它為所有可用邊界掃描測試的元件進行故障檢測和隔離。 TPG 也能為掛在JTAG鏈的在非邊界掃描組件產生測試向量。 報表生成軟件DFT提供測試覆蓋面報告,提供測試的覆蓋率。 運行腳本軟件RUN​​NER 為邊界掃描測試和在線編程執行提供稱測試計劃(test plan)。 UUT自動應用測試向量文件(test vector file), 並且將它的結果與期望的值比較。 在有檢測缺點的情況下, 系統診斷缺點和列出故障。 測試也可以編程CPLDs 和閃存。 並且支持其它格式的在線編程, 譬如SVF, JAM, J-Drive和STAPL。 高級診斷軟件ADO,可以在有鼓掌和問題的時候,自動提示出引起fail的各種可能性。

產品硬件圖片

Corelis邊界掃描測試

Corelis边界扫描在系统编程

Corelis全仿真测试

 

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