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可測試設計培訓手冊目錄

 

一, 可測試設計介紹

 

二, 測試技術說明:
(一),傳統測試技術介紹

1, ICT

2, ATE

(二),邊界掃描

1, 邊界掃描原理

2, 邊界掃描技術應用範圍

(三), 各種技術比較


三, 覆蓋率說明
(一),覆蓋率定義

(二),覆蓋率報告

(三),覆蓋率的功能


四, 應用邊界掃描測試
(一),設計時導入邊界掃描技術流程

(二),設計邊界掃描鏈

1, 菊花鏈

2, 多條

3, 通過電路配置鏈

4, 設計時如何規劃幾條鏈

(三),電路板層設計細節

1, DRAM 測試

2, flash 測試與編程

3, IO 測試

4, 總線測試

5, BIST 測試

(四),覆蓋率報告

 

五,設計技巧與經驗
(一),FPGA 注意點

(二),設計鏈技巧

(三),BSDL 檢查

(四),提高覆蓋率


六, 練習邊掃測試技術


七, 溝通與答疑

 

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